机译:使用CTX的高速扫描测试中的高启动开关活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高启动开关活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高发射切换活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:基于GA的 X i>填充,可减少在快速扫描测试中朝特定目标的发射切换活动
机译:CTX:基于时钟门的测试放松和X填充方案,用于降低在速度扫描测试中的屈服损失风险
机译:基于区域划分测试的集成电路中降低发射和捕获功率的可测试性支持设计。
机译:通过使用MicroScan Overnight和ESBL确认面板进行测试来检测CTX-M型超广谱β-内酰胺酶(ESBL)
机译:基于GA的X填充,可减少高速扫描测试中朝特定目标的发射切换活动
机译:基于扫描的切换测试